焊接精密度0.01mm

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层状介质致密性(密度)表征

来源: | 发布日期:2022-07-27

        研究表明,已知介质1、3的纵波声速及密度,假设层2的纵波声速03及衰减系数02 为常数,则01取值不同,相位谱形状及其极值的变化规律也不同。设对应相位谱形状变化存在的两个临界密度值为04 0506,如图7-20所示。设一、三阶谐振频率分别为07,相位极值对应的频率与谐振频率之间存在的差值为13 :

1)当08时,09 对应的相位极值均由极小值向极大值变化。

2)当10时,11 对应的相位极值由极小值向极大值变化,而12对应情况则由极大值向极小值变化。

3)当14时,相位极值均由极大值向极小值变化。此外,随着01 值的增加,声压反射系数相位谱极值的绝对值呈单调递减变化。

采用电子束物理气相沉积技术( Electron Beam Physical Vapor Deposition,EBPVD)制备15涂层,借助TEMP—6型强流脉冲离子束(High-Intensity Pulsed lon Beam, HIPIB)装置对部分涂层试样进行1次和5次辐照,离子束参数为:加速电压300kV,脉冲宽度70~80ns,束流密度300A/cm2。对原始YSZ涂层及HIPIB辐照1次和5次的涂层分别进行超声波实验测试,得到了声压反射系数相位谱(见图7-21)。观察发现,三种涂层的密度均满足14 的情况。对于原始涂层及辐照1次、5次YSZ涂层,11对应的相位谱极值的绝对值依次减小,表明涂层致密程度逐渐增大。超声波表征结果与涂层表面及横截面的SEM结果相符(见图7-22、图7-23)。


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图7-20  层状介质密度01与声压反射系数相位谱的关系         


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图7-21  YSZ涂层试样声压反射系数相位谱实验结果


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图7-22  原始YSZ涂层及HIPIB辐照后涂层表面形貌

a) 原始涂层   b)辐照1次    c)辐照5次


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图7-23  原始YSZ涂层及HIPIB辐照后涂层横截面形貌

a) 原始涂层   b)辐照1次    c)辐照5次



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